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2023-12-06產(chǎn)品展示/ Product display
Chroma19036電氣安規(guī)掃描分析儀結(jié)合了耐壓測(cè)試 (AC/DC)、絕緣電阻測(cè)量 (IR)、直流電阻測(cè)量 (DCR) 與脈沖測(cè)試于一臺(tái)單機(jī),擁有耐壓測(cè)試AC 5kV/DC 6kV、絕緣測(cè)量最高DC 5kV、四線式直流電阻測(cè)量范圍2mΩ~2MΩ與脈沖測(cè)試DC 6kV,且擁有10通道可執(zhí)行一次多個(gè)待測(cè)物的掃描測(cè)試,搭配外接信道掃描盒可達(dá)到40通道的測(cè)試。
聯(lián)系電話:13421301530
品牌 | Chroma/致茂 | 電動(dòng)機(jī)功率 | 0.5kW |
---|---|---|---|
外形尺寸 | 428 x 177 x 500mm | 重量 | 26kgkg |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,交通,汽車(chē),電氣 | 交流耐壓測(cè)試 | AC 5kV |
DC耐壓測(cè)試 | DC 6kV | 絕緣電阻測(cè)量 | 5kV |
通道數(shù) | 40 |
Chroma19036電氣安規(guī)掃描分析儀
基本介紹
19036電氣安規(guī)掃描分析儀可針對(duì)馬達(dá)、變壓器、電感等繞線組件產(chǎn)品進(jìn)行安規(guī)測(cè)試,讓繞線組件的生產(chǎn)制造商及使用者在產(chǎn)品檢驗(yàn)時(shí),能更有效率地為產(chǎn)品質(zhì)量把關(guān)。線圈會(huì)發(fā)生絕緣不良通常是因?yàn)槌跏荚O(shè)計(jì)不良、 加工制程不良或是絕緣材料劣化等導(dǎo)致線圈發(fā)生圈與圈之間的層間短路、線圈與磁芯的絕緣不良或是線圈與接腳短路。在產(chǎn)品制造的測(cè)試項(xiàng)目中加入脈沖測(cè)試可對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行多種缺陷的分析測(cè)量,進(jìn)而提升繞線組件產(chǎn)品的生產(chǎn)質(zhì)量。脈沖測(cè)試擁有面積比較、面積差比較、顫動(dòng)量偵測(cè)、二次微分、波峰差比、諧振面積比與頻率差比的判定,可針對(duì)線圈的層間絕緣不良、質(zhì)量不良及感量差異進(jìn)行有效的檢測(cè)與分析。具備四線式直流電阻測(cè)量技術(shù),每通道含有Drive與Sense的接口,單機(jī)可提供10通道的四線式直流電阻測(cè)量;直流電阻測(cè)量也具備溫度補(bǔ)償功能,可配合溫度探棒對(duì)待測(cè)物或環(huán)境溫度進(jìn)行測(cè)量后,進(jìn)行溫度補(bǔ)償?shù)淖柚涤?jì)算。19036擁有高速接觸檢查及開(kāi)路檢查的功能,在執(zhí)行測(cè)試前快速地為每個(gè)通道檢查待測(cè)物的接觸/連接是否良好以及待測(cè)物是否有開(kāi)路或短路的問(wèn)題,可解決因待測(cè)物接觸不良而導(dǎo)致測(cè)試失敗或無(wú)效測(cè)試的問(wèn)題。
主要特點(diǎn)
■五合一安規(guī)掃描分析儀 (交流耐壓、直流 耐壓、絕緣電阻、直流電阻、脈沖測(cè)試)
■耐壓測(cè)試 (Hi-pot) - 交流最大AC 5kV / 直流最大DC 6kV - 高頻接觸檢查 (HFCC)
■絕緣電阻測(cè)量 (IR) - 最大 5kV
■直流電阻測(cè)量 (DCR) - 直流電阻平衡功能 (DCR Balance)
■脈沖測(cè)試比較 (IWT CMP)
■高速接觸檢查 (HSCC)
■開(kāi)路檢查 (OSC)
■支持3302/3252感量、Q值量測(cè) (選購(gòu)) - 電感 (Lx) - 電感平衡 (Lx Balance)
■人體接地保護(hù)功能 (GFI)
■支持最多40信道掃描測(cè)試
■USB數(shù)據(jù)儲(chǔ)存及畫(huà)面擷取功能
■標(biāo)準(zhǔn)LAN、USB、RS232接口
■操作接口( 英文、繁中、簡(jiǎn)中
直流電阻測(cè)量
Chroma19036電氣安規(guī)掃描分析儀的10個(gè)通道都擁有四線式直流電阻測(cè)量(2mΩ~2MΩ)的能力,可提供馬達(dá)及變壓器等多線圈繞組的繞線組件高準(zhǔn)確度的直流電阻測(cè)量。此外,搭配外接掃描盒最多可支持40通道測(cè)量。
掃描盒:
■四線式測(cè)量: A190362 (搭配四線式高壓測(cè)試線)
■兩線式測(cè)量: A190359 (搭配兩線式高壓測(cè)試線
脈沖測(cè)試功能
脈沖測(cè)試是使用合適的測(cè)試電壓對(duì)繞線組件施加一個(gè)『非破壞性』、高速、低能量的脈沖電壓,藉由分析/比對(duì)待測(cè)物與樣品之等效波形的差異達(dá)到判定待測(cè)物為良品或不良品。對(duì)繞線組件施加脈沖測(cè)試主要是為了找出繞線組件的潛在缺陷,例如: 層間短路、電暈放電等,也可利用待測(cè)物自體的雜散電容與電感所產(chǎn)生諧振波形的振蕩衰減狀態(tài)來(lái)判定產(chǎn)品質(zhì)量,此震蕩衰減的狀態(tài)表現(xiàn)了待測(cè)物的線圈在工作時(shí)的能量損耗狀態(tài)。在開(kāi)關(guān)導(dǎo)通 (ON) 時(shí),脈沖電壓會(huì)施加在待測(cè)物上,利用施加在待測(cè)物上的測(cè)試電壓檢測(cè)待測(cè)物圈與圈之間的絕緣距離是否足夠;在開(kāi)關(guān)截止 (OFF) 時(shí), 待測(cè)物會(huì)與自體的雜散電容產(chǎn)生諧振,利用自體諧振波形的衰減狀態(tài)對(duì)待測(cè)物的質(zhì)量進(jìn)行檢測(cè)。
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